国产精品28P_欧美色精品人妻在线视频_日韩一区精品视频一区二区_99久久精品日本一区二区免费

DM2400型

MEDXRF輕元(yuan)素光譜儀

滿足(zu)國(guo)Ⅴ、國(guo)VI對車用汽柴油超低(di)S檢測要(yao)求(qiu)

超低(di)檢測限（300s）：

Si: 0.7ppm，P: 0.4ppm，

S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm

采用

單色(se)激(ji)發能量色散(san)X射線熒光(guang)(MEDXRF)分析技術

高(gao)衍射(she)效率對數螺線旋(xuan)轉雙(shuang)曲面(LSDCC)人工晶體

高計數率(2Mcps)和分(fen)辨率(123eV)的SDD探測器

合(he)理kV、mA、靶材組合的微焦斑薄鈹窗(chuang)X射線管

符合(he)標準：

GB/T 11140

ISO20884

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

ASTM D7757

ASTM D7536

ISO 15597

ASTM D6481

概述(shu)

DM2400型單色(se)激(ji)發能量色(se)散X射線熒光輕元素（Si、P、S、Cl）光譜儀(yi)，簡稱DM2400型MEDXRF輕(qing)元素光(guang)譜儀(yi)，是本公(gong)司集數十年(nian)X熒光(guang)光(guang)譜儀的研究經(jing)驗，在公司原(yuan)有的DM系列X熒光測硫(liu)儀、X熒(ying)光多元素(su)分(fen)析儀、波長(chang)色(se)散X射線熒(ying)光多道光譜儀等的基礎上研制推出的本公(gong)司第(di)一款單(dan)色激發XRF光譜儀。它采用以下技術和器件，使(shi)采(cai)用(yong)50W光管的能譜儀DM2400具有出(chu)(chu)色(se)的再現(xian)性和(he)穩(wen)定性，超低檢出(chu)(chu)限(xian)，實已將檢測水(shui)平提升(sheng)到一個新高度。

單色激(ji)發能(neng)量色散X射線(xian)熒(ying)光(MEDXRF)分析技術(shu)

X射(she)線熒光光譜儀的檢出限LOD（limit of detection）是指(zhi)由(you)基質空白所產生的儀器背景信號標準偏差(cha)的3倍值的相應量，即：

（1）

式(shi)中(zhong)，R_b為背景（本底）計數強度，N為已知(zhi)濃度為C的低濃度試樣的計數強度，T為測量時間。從式（1）可以看出檢出限與靈敏度（N-R_b）/C成反比，與背(bei)景(jing)R_b的平方根(gen)成正比。在測量時(shi)間一定的情況(kuang)下(xia)要降低檢(jian)出限，就必須提高靈敏(min)度和（或(huo)）降低背景(jing)。

圖1.MEDXRF分析技(ji)術原(yuan)理圖

傳統XRF，無論是EDXRF還是WDXRF，無法實現較低(di)檢(jian)出(chu)限(xian)的一(yi)個主要原(yuan)因是X射(she)(she)線光管(guan)出射(she)(she)譜(pu)中連續(xu)軔致輻射(she)(she)的散(san)射(she)(she)使(shi)得熒光光譜(pu)的連續(xu)散(san)射(she)(she)背(bei)景較高。

單色(se)激發能量色(se)散X射線熒光(guang)(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術，就是采用光學器件將X射線(xian)光管出射譜單色化，進而使得熒光光譜的(de)連續散射背景極大地降低，同時盡可(ke)能少的(de)降低甚至于可(ke)能的(de)話增加所需激(ji)發X射線(xian)的(de)(de)單色化的(de)(de)線(xian)或窄能(neng)量帶的(de)(de)強度，從而大(da)大(da)降低了檢出限。相(xiang)比傳統的(de)(de)EDXRF降低了1至(zhi)2個數量級，相比大功(gong)率（如4kw）的WDXRF也要(yao)低得多。

圖2.樣品的(de)XRF光譜圖(tu)

高衍射效率對數螺線(xian)旋轉點對點聚焦(jiao)人工單色晶體

將X射線(xian)光管(guan)出射譜單色化的(de)方法(fa)很多，有(you)濾波片法(fa)，二次靶(ba)法(fa)和衍射法(fa)等。而衍射法(fa)中的(de)雙曲面衍射晶(jing)體(ti)DCC（Doubly CurvedCrystals）是單色化最(zui)(zui)好(hao)和(he)效(xiao)率最(zui)(zui)高(gao)的。

衍(yan)射必須滿足Bragg定律：

nλ=2dsinθ （2）

也(ye)就是(shi)說(shuo)從源出射的射線其波長必須(xu)滿足（2）式才被(bei)衍射，所以(yi)其(qi)具(ju)有(you)極(ji)好的單(dan)色化。又由(you)于(yu)DCC能(neng)將點源(yuan)聚(ju)焦(jiao)，所以(yi)有大的收集立體角，從而有極高(gao)的效率。另(ling)外，聚(ju)焦(jiao)還能(neng)使(shi)照射到(dao)樣品的光斑很(hen)小，從而使(shi)小面積的半導體探測器Si-PIN或SDD可(ke)以接受大部分樣品較小面中的熒光射線，也就是說DCC還提高了探測(ce)效率。

圖(tu)3.實線為X射(she)線管的出射(she)譜，

紅色為(wei)經(jing)LSDCC單色化的(de)特征X射(she)線入(ru)射(she)譜

DCC按其(qi)曲(qu)面又分為半聚(ju)焦（Johann），全聚焦（Johansson）和對數(shu)螺線（Logarithmic Spiral）等。其中半(ban)聚焦(jiao)只是部分滿足衍射條件(jian)，所(suo)以經半(ban)聚焦(jiao)DCC單色(se)化的特征X射線入射譜是最差的。全(quan)聚焦(jiao)是完全(quan)滿足衍射條(tiao)件且(qie)是點(dian)對點(dian)聚焦(jiao)的。但(dan)全(quan)聚焦(jiao)DCC的(de)制造工藝極其復(fu)雜，除彎曲外它(ta)必須(xu)有一個磨成(cheng)R曲面的過(guo)程，天然晶體如(ru)Si，Ge等是很脆的，極不容易(yi)磨制，而人工(gong)晶體(ti)是不可(ke)能(neng)磨制的，另外(wai)天然晶體(ti)通常在非(fei)常窄的光譜區域中(zhong)衍射(she)X射(she)線(xian)。導(dao)致靶材(cai)特征X射線只有一部分被衍射，積分衍射率低。

DM2400采用(yong)的對數螺線旋轉(zhuan)雙曲面(mian)人工晶體DM30L，是集本公(gong)司技術精英經(jing)2年的刻苦專研(yan)(yan)研(yan)(yan)制而成的專利產品。對(dui)數螺線(xian)DCC也是完全滿足衍射條件的(de)，雖然聚焦不是點(dian)對點(dian)的(de)，而(er)是點(dian)對面的(de)，但由于這個面很(hen)小，一(yi)般只有2mm左右，所(suo)以(yi)可認為是點(dian)對點(dian)的。它用的是DM人(ren)工晶(jing)體，該(gai)晶(jing)體的(de)積分衍射率(lv)是天然晶(jing)體的(de)3到10倍(bei)。另外，它只(zhi)需彎曲無(wu)需磨(mo)制和(he)拼接，制造方(fang)便。

圖(tu)4. LSDCC點(dian)(dian)對(dui)點(dian)(dian)聚焦(jiao)原理圖

高分辨率(lv)(123eV)高計數率(lv)(2 Mcps)的SDD探測器

X射線探測器的種類(lei)有(you)很多，有(you)正(zheng)比計(ji)數(shu)管(guan)，Si-PIN探(tan)測器(qi)和硅漂移探(tan)測器(qi)SDD等(deng)。探(tan)測器(qi)(qi)的(de)分(fen)辨率以全能(neng)峰的(de)半寬度表示，全能(neng)峰的(de)凈計(ji)數(shu)與半寬度無(wu)關，但(dan)其(qi)背景(jing)計(ji)數(shu)與半寬度成正比，所以分(fen)辨率越高(gao)則檢出限越低。正比計(ji)數(shu)管的(de)半寬度是半導體探(tan)測器(qi)(qi)的(de)8倍左右，所(suo)以檢(jian)出限(xian)高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比(bi)SDD的稍差，且其在(zai)高計數率下(xia)分辨(bian)率急劇下(xia)降(jiang)，所以SDD是最好的(de)探測器。

DM2400采(cai)用德國KETEK公司生產(chan)的VITUS H20 CUBE(最(zui)高級)SDD探測器(qi)，其分辨率(lv)小于123eV，有效探測面積20mm²，計(ji)數率2Mcps。

圖5. 硅(gui)漂移探測器SDD

合(he)理(li)kV、mA、靶材組合的微焦(jiao)斑薄鈹窗(chuang)X射(she)線管

激發樣(yang)品(pin)的(de)X射線(xian)能(neng)量越(yue)接近所(suo)需分析(xi)元素的(de)吸收限，其激發效率就(jiu)越(yue)高(gao)。DM30L晶體僅衍射X射線(xian)管出射譜(pu)中(zhong)的高強度特征(zheng)X射(she)線(xian)，其有靶材發(fa)出。所(suo)以合理的選(xuan)用靶材能得到最(zui)高的激發(fa)效率。DM2400標準型(xing)由于可測量Cl以下的(de)元素(su)，所以選擇Ag作為靶材(cai)。

選定靶材(cai)后，在X射(she)線光管最大功率一定的(de)情況下，如50W，合理的(de)光管(guan)高壓（kV）和電流（mA）組(zu)合能(neng)達(da)到最(zui)大(da)的(de)激發(fa)效率。由于采用(yong)點(dian)對點(dian)的(de)聚焦(jiao)，所以必須采用(yong)微焦(jiao)斑的(de)X光(guang)管(guan)。由于(yu)靶材的特(te)征X射線能量很低，所以必須用薄鈹窗(chuang)X射(she)線管。

DM2400采(cai)用(yong)50W微焦(jiao)斑薄(bo)鈹(pi)窗X射線管，標準型選用Ag靶，并對kV、mA進(jin)行合(he)理組合(he)。

圖6. 微焦(jiao)斑薄鈹窗X射線(xian)管

標(biao)定

用(yong)已知含量的7個含Si、P、S、Cl樣(yang)品對儀器進(jin)行標定(ding)，得圖(tu)7的工作曲(qu)線(xian)。

圖(tu)7. 含Si、P、S、Cl樣品工作曲線

這些工作曲線的(de)相關系數γ 均大于0.999，表示(shi)DM2400光譜儀的(de)線(xian)性誤差(cha)極小。

準確(que)度

為了進(jin)一步測(ce)試分析(xi)的(de)準確性，制備了具(ju)有不同硫含量的(de)柴(chai)油和輕質油的(de)五(wu)個(ge)樣(yang)(yang)品(pin)，每個(ge)樣(yang)(yang)品(pin)裝(zhuang)入兩(liang)個(ge)不同的(de)樣(yang)(yang)品(pin)杯中(zhong)進(jin)行S準(zhun)確度(du)試驗：

表2. 用五個(ge)未知樣品測定S分析(xi)的準確度結果

表2示出了獲得的(de)濃度(du)結果(guo)（ppm），以(yi)及與(yu)標稱(cheng)值的比(bi)較。這些結果(guo)表示在(zai)低濃(nong)度水平下，用DM2400光譜儀可以實現S的優異的準確度。

精確(que)度

對(dui)三種(zhong)，每種(zhong)各裝(zhuang)入七個不同樣品杯的汽(qi)油樣品進行S重復性試(shi)驗(yan)：

表1. S汽油樣品S分析的(de)重復(fu)性測試數據

這些結果表示在(zai)低濃(nong)度水平下，用DM2400光譜儀可以實現S的優異的重復性(xing)。

特點

快速同時(shi)–所需(xu)測(ce)量元(yuan)素同時快速分(fen)析，一(yi)般幾十秒給出(chu)含(han)量結果(guo)。

低檢出限(xian)–采用先(xian)進(jin)MEDXRF技(ji)術，LSDCC核心(xin)技術(shu)，達(da)到全(quan)球最低(di)檢出限。具極高的(de)重現(xian)性(xing)和再現(xian)性(xing)。

長期穩(wen)定(ding)–采用(yong)可變(bian)增益數(shu)字多道,有PHA自動調(diao)整(zheng)、漂移校(xiao)正、偏差(cha)修正等(deng)功(gong)能(neng)，具極好(hao)的(de)長期(qi)穩定性。

環保節(jie)能(neng)–射線防護達豁免(mian)要求。分析時不(bu)接(jie)觸不(bu)破壞樣品，無(wu)污染，無(wu)需化(hua)學試劑，也不(bu)需要(yao)燃燒。

使(shi)用(yong)方便–觸(chu)摸屏操作。樣(yang)品(pin)直接裝入(ru)樣(yang)品(pin)杯，放(fang)入(ru)儀器后只需按[啟動]鍵即可(ke)，真正實現一鍵操作。

高(gao)可靠性(xing)–一體化(hua)設計，集成化程度高(gao)，環(huan)境(jing)適(shi)應能力強(qiang)，抗干擾能力強(qiang)，可靠性(xing)高(gao)。

高性價比–無需鋼瓶(ping)氣(qi)體(ti)，運行維護(hu)成本極低。價格為國外同類產(chan)品的(de)一半。是真(zhen)正的(de)高性價比產(chan)品。

主要技術指標

注：如用戶認為標準型的DM2400不能滿足要求，可向本公司提出，本公司可盡可能滿足用戶的要求。如要求更低的檢測限，本公司可將晶體從1塊增加到3塊以降低檢測限為原來的1/1.73。如要求測量F以下原子序數的元素，本公司可為用戶選擇AP3.3入射窗的SDD。如用戶要在高S的基體下測微量Al和Si，本公司可將標準型的Ag靶改為Mo靶，以滿足用戶要求。