DM2500
MMEDXRF輕中元素光(guang)譜儀
(通用型)
多單(dan)色激發(fa)實現高(gao)峰背比(bi),使能(neng)測元(yuan)素(B~Zn),
其準確(que)度媲美(mei)大型(xing)波長色(se)散光譜儀
通用型(xing)滿(man)足(zu)各行各業任何種類
物料元素(su)濃度的測量要(yao)求
采用(yong)
多單色激發(fa)能量色散X射線(xian)熒光(MMEDXRF)分析技(ji)術
對(dui)數(shu)螺線(xian)型雙(shuang)曲面(mian)彎晶(LSDCC)實(shi)現衍射并(bing)作為(wei)二次靶
高(gao)計數率、高(gao)分辨率、高(gao)透過率(AP3.3窗)SDD探(tan)測(ce)器
電(dian)壓、電流、靶(ba)材(cai)完美組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源(yuan)
符(fu)合標準(zhun)
GB/T3286.11
GB/T4333.5
YS/T63.16
GB/T24198
GB/T24231
GB/T34534
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
等
概述
DM2500MMEDXRF輕(qing)中元素光(guang)譜儀,詳(xiang)稱DM2500多單色激(ji)發能量色散X射線熒光輕中元素(B~Zn)光譜(pu)儀(yi),是本(ben)公司集數十年X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀的(de)研究經驗,在公司原(yuan)有的DM系列X熒光硫鈣(gai)鐵分析儀、X熒(ying)光多元素分(fen)析儀、X熒光光譜儀等的基礎(chu)上研(yan)制推出(chu)的一(yi)種具創新性(xing)的XRF光譜儀。它(ta)采(cai)用多(duo)單色激發能量色(se)散X射(she)線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析(xi)技術。主要部件,如:單色晶體采用本公司(si)(si)研制(zhi)的具有本公司(si)(si)專利的對(dui)數螺線旋轉點對(dui)點聚焦(jiao)鍺單色晶體,X射線管采用KeyWay公司(si)生產的(de)50W微焦點(dian)大(da)輻射角薄鈹(pi)窗X射線管,并對其高壓、電流、靶(ba)材進行最佳組合(he), X射線(xian)探測(ce)器采(cai)用德國Ketek公司(si)生產的具有高(gao)計數(shu)率、高(gao)能量分辨(bian)率、高(gao)透過率的常溫用SDD半(ban)導(dao)體X射線(xian)探測器。并且采用具有本(ben)公(gong)司自主知識產權的輕(qing)元素(su)專用的光學系(xi)(xi)統及多種方法組合使用的多個單色激發系(xi)(xi)統等獨(du)有的技術,極大地提高了(le)儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射(she)線向下照(zhao)射(she)系統(tong),樣(yang)品自旋(xuan)裝(zhuang)置(zhi),特別適合粉末(mo)壓片(pian)樣(yang)品,且(qie)可根據應用選擇真空(kong)系統(tong)或自充氣系統(tong)。由此使本(ben)光譜(pu)儀(yi)達(da)到國際領先水(shui)平。在(zai)與大(da)型(xing)波長(chang)色散光譜(pu)儀(yi)的比較試(shi)驗(yan)中,其大(da)部分性能(neng)指標接(jie)近或達(da)到大(da)型(xing)波長(chang)色散光譜(pu)儀(yi)的性能(neng)指標,某些甚至(zhi)超過。其性(xing)能指標相比進口同(tong)類產品(pin)更(geng)好,而(er)價(jia)格僅為進口同(tong)類產品(pin)的(de)(de)一半(ban),具有(you)無可比擬的(de)(de)價(jia)格性(xing)能比。另外國內企業(ye)售后服務的(de)(de)方便程度是(shi)國外企業(ye)所無法相比的(de)(de)。且本光(guang)譜(pu)儀(yi)良(liang)好的(de)(de)屏蔽防護設計保證無任(ren)何射線泄(xie)漏,滿足輻射豁免要求。
適(shi)用范(fan)圍
DM2500MEDXRF輕中元(yuan)素光譜儀可(ke)用(yong)于各(ge)行各(ge)業所有物料的(de)含量測(ce)量。無論環保、冶(ye)金(jin)、化工、地質、礦山、電子電氣、食品等各(ge)行業,還是壓片、熔片、液(ye)體等各(ge)類型(xing)樣品,只要(yao)用(yong)戶(hu)所要(yao)求的(de)測(ce)量元(yuan)素在B(5)~Zn(30)的范圍(wei)內,DM2500都能進行準確測量(liang)。其符合(he)幾乎所有元素測定XRF光譜法標準的相關要求(qiu),如(ru):國家或行業(ye)標準GB/T 176—2017《水泥化學分(fen)析方法》、GB/T3286.11-2022《石(shi)(shi)灰(hui)石(shi)(shi)及白云石(shi)(shi)化(hua)學分析方法 第11部分:氧化(hua)鈣、氧化(hua)鎂、二氧化(hua)硅、氧化(hua)鋁及氧化(hua)鐵含量的測定 波長色散X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜法(fa)(熔(rong)鑄玻(bo)璃片(pian)法(fa))》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻(ge)和(he)鐵含量的測定 波長色散X-射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜法(fa)(熔鑄(zhu)玻璃片法(fa))》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第(di)16部分:元素(su)含(han)量(liang)的(de)測定 波長色散X射(she)線熒光光譜分析方法(fa)》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳(nie)、硅、磷、錳、鈷(gu)、鉻(ge)和銅含(han)量的測定(ding).波長色散X射線(xian)熒(ying)光光譜(pu)法(fa)(常規法)》等。其還符(fu)合行業標(biao)準JC/T1085—2008《水泥(ni)用(yong)X射線熒光分析(xi)儀》、JB/T11145—2011《X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀(yi)》。
如貴用(yong)戶(hu)對(dui)某些元(yuan)素(su)的測量有(you)特殊的要求,則本(ben)公司可根據用(yong)戶(hu)的要求更改單色激發系統和或(huo)軟件系統以(yi)滿足用(yong)戶(hu)對(dui)測量元(yuan)素(su)的要求。
特點
快速同時–所需測量元素同時快速(su)分(fen)析,一般(ban)幾十秒給出(chu)含量結(jie)果。
高準(zhun)確度(du)–采用先進MMEDXRF技術,LSDCC核心技術,根據(ju)所要(yao)測量的(de)元素來選擇單(dan)色(se)(se)光的(de)能量及產生單(dan)色(se)(se)光的(de)方法,極(ji)大地(di)提高了儀器的(de)靈(ling)敏度和峰(feng)背比(bi),具(ju)出色(se)(se)的(de)重(zhong)復性和再現(xian)性,極(ji)高的(de)準(zhun)確度。
向(xiang)下照(zhao)射–采用X射線向下照射系統,杜絕了樣(yang)品粉末(mo)污染損壞探(tan)測系統的可(ke)能(neng),特(te)別適合粉末(mo)壓片樣(yang)品。
樣品自旋–具有(you)樣品自旋裝置(zhi),消除了壓片樣品中由于特硬物質(zhi)的存在而不(bu)易(yi)粉碎造成的樣品不(bu)均勻性。
長期穩定(ding)–采用可變(bian)增益數字(zi)多道,有(you)PHA自動調整、漂移(yi)校正、偏差修(xiu)正等功(gong)能(neng),具極好的長期穩定(ding)性。
環保節能–射線防護達豁免要求(qiu)。分析時不(bu)接觸不(bu)破壞樣品,無污染,無需化學(xue)試劑,也不(bu)需要燃燒。
使用(yong)方便–觸(chu)摸屏操作(zuo)。樣品粉碎壓片放(fang)入儀器后只需按(an)[啟動]鍵即可,真正(zheng)實現一鍵操作(zuo)。
高(gao)可(ke)靠性(xing)–一體化設計(ji),集成化程度高(gao),環境適(shi)應能力(li)強(qiang),抗干擾能力(li)強(qiang),可靠性高(gao)。
高(gao)性價比–無需鋼瓶氣體,運行(xing)維(wei)護成(cheng)本極低(di)。價格為國外(wai)同類產(chan)(chan)品(pin)的一半(ban)。是真(zhen)正的高性價比產(chan)(chan)品(pin)。
尖端(duan)技(ji)術
同標準型(xing)
校準
X熒光(guang)分析方法是一種參考(kao)方法,校準(zhun)是為得到(dao)定量(liang)的結(jie)果所(suo)必須的。XRF光(guang)譜儀通過比(bi)較已知標樣與未知樣的光(guang)譜強度來得到定量(liang)分析的結果。其某元素(su)的含量(liang)計(ji)算式(即校準曲(qu)線)為:
C=D+EIC+FIC 2 (1)
式中,IC =f(I0),I0為原始(shi)強度(即(ji)原始(shi)道計數率),IC為處理后強(qiang)度(或修正(zheng)后強(qiang)度),D、E、F是由校準確定的(de)(de)系(xi)數。校準的(de)(de)方(fang)法是:用光譜儀測量一(yi)系(xi)列校準標準樣(yang)(yang)品或(huo)有證標準樣(yang)(yang)品的(de)(de)每種元素強度,利用回歸分析,例如最小二乘法,確定(1)的(de)系數。
用已知(zhi)含量的某單位鋁用碳素校準樣品對光譜儀進行校準,得到的數據如表1。
表1.某單位(wei)鋁(lv)用碳(tan)素校(xiao)準樣品(pin)校(xiao)準結果數據(ppm)
元素 |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
系數(shu)D |
-489.8 |
-66.93 |
-0.34 |
-276.9 |
-372.7 |
-158.1 |
-140.2 |
系數E |
0.9447 |
6.458 |
1.58 |
1.074 |
1.251 |
0.2932 |
0.854 |
系數F |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
相關(guan)系數γ |
0.9612 |
0.9971 |
0.9956 |
0.9833 |
0.9977 |
0.9561 |
0.9742 |
這(zhe)些校準曲線的相關系數γ 均大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。
重復性
對某(mou)單位鋁用碳素樣(yang)品中的某(mou)一(yi)樣(yang)品,進(jin)行11次測量,得到各元素(su)的重復(fu)性數據如(ru)表2。
表(biao)2.某單(dan)位鋁(lv)用(yong)碳素樣品重復性(xing)測量數據分(fen)析(ppm)
元素 |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
理論值 |
111.5 |
223 |
1.56 |
311.8 |
410 |
242 |
242 |
平均示值(zhi) |
105.80 |
225.36 |
1.55 |
312.52 |
412.91 |
232.61 |
235.02 |
最大(da)示值 |
108.09 |
228.23 |
1.56 |
315.88 |
418.04 |
234.13 |
237.35 |
最小示(shi)值 |
102.4 |
223.19 |
1.54 |
310.3 |
410.69 |
231.48 |
233.87 |
極差 |
5.69 |
5.04 |
0.02 |
5.58 |
7.35 |
2.65 |
3.48 |
示值標準偏差(cha) |
2.11 |
2.13 |
0.0071 |
2.21 |
3.01 |
0.96 |
1.41 |
3倍示(shi)值(zhi)標準偏差(cha)(儀(yi)器重(zhong)復(fu)性限) |
6.33 |
6.39 |
0.021 |
6.63 |
9.03 |
2.88 |
4.23 |
GB/T176的(de)重復性限 |
15 |
23 |
0.033 |
15 |
15 |
9 |
8 |
YS/T63.16允(yun)許差(cha) |
35 |
45 |
0.10 |
30 |
25 |
25 |
20 |
DM2500與(yu)YS/T63.16的(de)符合性 |
遠優(you) |
遠優(you) |
優 |
遠優(you) |
優 |
遠優 |
優 |
注:粉(fen)末(mo)壓(ya)片樣品。在X射線源為半功(gong)率(25W),測(ce)量時間為300s的條(tiao)件下(xia),連(lian)續進行11次測量所得的結(jie)果。
從(cong)上表可知:光譜儀的重復性限均小于(yu)行(xing)業標(biao)準YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第16部分(fen):元素含量(liang)的測定 波長色(se)散X射(she)線熒光(guang)光(guang)譜分析方法》所(suo)要(yao)求的(de)重(zhong)復性限。所(suo)以,DM2500光譜儀可實現優(you)異的重復(fu)性,完全滿足YS/T63.16—2019有關重復性的(de)要求。
主要技術(shu)指標
測量元(yuan)素 |
可選擇B(5)~Zn(30)中(zhong)的任意元素 |
X射線管 |
電壓(ya):≤50keV,電流:≤2mA,功率≤50W,靶材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可選) |
探測器 |
SDD,有效面積:20mm2,分辨率:≥123eV,計(ji)數率(lv):≤2Mcps,入射窗(chuang):AP3.3 |
檢測限(300s) |
C:2.0%,N:1.0%,O:0.5%,F:0.15%, Na:30ppm,Mg:20ppm,Al:10ppm,Si/P/S/Cl:2.0ppm,K-Zn:3.0ppm |
測量(liang)范圍 |
檢測限的3倍~99.99%。 |
重復性限 |
滿(man)足幾乎所有元素測定XRF光譜法(fa)標準的相關(guan)要求,如:GB/T 176—2017,GB/T3286.11-2022,GB/T4333.5-2016,YS/T63.16—2019,GB/T24198-2009等 |
系(xi)統測量(liang)時間 |
1~999s,推(tui)薦值為300s |
測(ce)量氛圍 |
自充氣系(xi)統或氦(hai)氣 |
使用條件(jian) |
環境溫度:5~40℃,相對濕度:≤85%(30℃),供電電源:220V±20V,50Hz,≤200W |
尺寸及重量(liang) |
540mm×500mm×450mm,35kg |
注:檢出限與樣(yang)品基體有關。