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DM1230

X熒光(guang)鋁硅分析儀

與鈣(gai)鐵(tie)分析儀同時使(shi)用、

實現生(sheng)料配料的率值控制

以不(bu)到一半的投資實現

X熒光多元(yuan)素分析儀(yi)的(de)功(gong)能

采用

能(neng)量色散X射(she)線熒光(EDXRF)分析(xi)技術

本公司(si)專有(you)的分譜技術(shu)、次級(ji)濾光片、

超薄鈹窗正比計數(shu)管(guan)、特殊的光路(lu)系(xi)統

符合標(biao)準

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

概述

DM1230 X熒光(guang)鋁硅分析儀是本公司集數十年(nian)X熒光分析儀(yi)的(de)研究經驗，在公(gong)司原有的(de)DM系(xi)列鈣鐵(tie)分析儀、X熒光多元素分析(xi)(xi)儀(yi)等的(de)基礎上(shang)研制推出的(de)分析(xi)(xi)儀(yi)器。它采用能(neng)量色散X射線熒光(guang)(EDXRF)分(fen)析技(ji)術，薄(bo)鈹窗充氣(qi)正比(bi)計數管、次級(ji)濾光(guang)片、特(te)殊的光(guang)路系統、硬(ying)質樣品(pin)比(bi)例(li)法和本公司專有的分(fen)譜技(ji)術，從而使小(xiao)型(xing)儀器(qi)也能準確(que)測量(liang)相鄰的輕(qing)元(yuan)素(如水泥生料中的(de)Al、Si)，其測量準確度達到進口同類儀器的水(shui)平。其符合(he)國家(jia)標(biao)準GB/T 176—2017《水泥化學分析方法》的相關(guan)要求(qiu)，符(fu)合(he)行業(ye)標準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒(ying)光分析儀》，符合行業標(biao)準JB/T11145—2011《X射線熒(ying)光光譜(pu)儀》。只要壓個片(pian)就能(neng)在5分鐘內(nei)測出生料、熟料或水泥中(zhong)Al₂O₃、SiO₂的濃(nong)度。

圖0 EDXRF分(fen)析技術原理圖

目前國內(nei)大多數水(shui)泥企(qi)業(ye)已使用X熒光鈣鐵分(fen)析儀(yi)來測量生料(liao)等(deng)物料(liao)中CaO、Fe₂O₃的含量，但Al₂O₃、SiO₂含量的(de)測量卻(que)很(hen)少是用(yong)X熒光分析(xi)儀(yi)的，而Al₂O₃、SiO₂含量的即(ji)時準確得(de)到與CaO、Fe₂O₃對水泥(ni)生(sheng)產的(de)(de)(de)質量控制(zhi)(zhi)同(tong)樣(yang)重要(yao)，只有同(tong)時(shi)即時(shi)準確得到這四個氧(yang)化物的(de)(de)(de)含量才(cai)能(neng)真正(zheng)實現生(sheng)料的(de)(de)(de)率值(zhi)控制(zhi)(zhi)。當本(ben)儀(yi)器與本(ben)公司的(de)(de)(de)鈣鐵分析(xi)儀(yi)一起使用(yong)時(shi)可用(yong)同(tong)一個樣(yang)品，且由于按本(ben)儀(yi)器要(yao)求(qiu)制(zhi)(zhi)備(bei)出(chu)的(de)(de)(de)樣(yang)品比按鈣鐵分析(xi)儀(yi)要(yao)求(qiu)的(de)(de)(de)好，所以還能(neng)提高CaO、Fe₂O₃的含量測量準確度，與DM2100型X熒光多元素(su)分析儀(yi)相比，雖然使用麻(ma)煩(fan)了一點，但價格(ge)不到一半，且由于(yu)結(jie)構簡單可靠(kao)性(xing)更(geng)高(gao)了。

DM1230 X熒(ying)光(guang)鋁(lv)硅分析儀的2021款除保持了原有DM1230的優點(dian)外，還進行了以(yi)下重大改進：

(1) 大(da)屏(ping)幕彩(cai)色觸摸式液晶(jing)屏(ping)代(dai)替原黑白液晶(jing)屏(ping)和鍵盤，改善了用(yong)戶的操控體(ti)驗(yan)。

(2) 新的大(da)規模集成電路(lu)CPU代替原老的(de)如(ru)80C31等(deng)CPU，沒有數據總(zong)線與(yu)外部(bu)設備(bei)或外部(bu)芯片直(zhi)接連接，極大地(di)提高了系統(tong)的可靠性，基(ji)本消滅了死機(ji)現象。

(3) 用貼(tie)片電路(lu)(lu)代替原立(li)式電路(lu)(lu)，減少了電路(lu)(lu)板的(de)(de)面積，并(bing)能大規模機械化生產，極大地提高了硬(ying)件的(de)(de)可靠性(xing)，使儀(yi)器的(de)(de)返(fan)修率降到最底。

(4) 用(yong)熱(re)敏打(da)印機代替了原來的針(zhen)打(da)印機。

(5) 用最新設計的采(cai)用CPLD，FPGA，DSP等技術(shu)的多道脈(mo)沖(chong)幅度(du)分析器(qi)(qi)及可變增(zeng)益(yi)放(fang)大器(qi)(qi)代替原單道脈(mo)沖(chong)幅度(du)分析器(qi)(qi)及固(gu)定增(zeng)益(yi)放(fang)大器(qi)(qi)，極大地提高了儀器(qi)(qi)的長期穩定性。

DM1230 X熒光鋁(lv)硅(gui)分析儀的2021款的(de)推出是本(ben)公司實現自我超越的(de)成果(guo)，必將使本(ben)公司在X熒光分析儀領域(yu)保持長久的國(guo)內領先地位。

適用范(fan)圍

主要用于(yu)水(shui)泥生料(liao)、熟料(liao)、水(shui)泥和(he)原料(liao)等物料(liao)中Al₂O₃、SiO₂的濃度(du)測(ce)量。可單(dan)機使(shi)用，也可聯機使(shi)用為生料配(pei)料自動控制系(xi)統(tong)提供(gong)檢測(ce)訊號(hao)，形成“分析儀---微機---皮帶(dai)秤”自動(dong)控制系統。

除水泥(ni)工業外，也可用于發電廠、磚瓦(wa)廠、冶金、石(shi)油、地質(zhi)礦山等部門的固(gu)體(ti)、液體(ti)和粉(fen)末(mo)樣品中Al₂O₃、SiO₂的濃度測量。

特(te)點

快速同(tong)時––所(suo)需測量元素同時快速分(fen)(fen)析，一般(ban)幾(ji)分(fen)(fen)鐘給出濃度結果。

高(gao)準(zhun)確度(du)––采用(yong)EDXRF技術，低(di)本底薄鈹窗正比計(ji)數管，次級濾(lv)光片。極大(da)地提(ti)高了儀器的(de)靈敏度和(he)峰背比，具出色的(de)重復性(xing)和(he)再現性(xing)，極高的(de)準確(que)度。

向(xiang)下照射(she)––采(cai)用X射線(xian)向下(xia)照射系統(tong)，杜絕了樣品(pin)粉末污染損壞探測(ce)系統(tong)的可能，特別適合水(shui)泥生熟(shu)料等粉末樣品(pin)。

長期(qi)穩定––采(cai)用(yong)可(ke)變增益數字(zi)多道，有(you)增益調整(zheng)、比率校正(zheng)、偏差修(xiu)正(zheng)等功能，具極好的長(chang)期穩定性(xing)。

環保(bao)節能––射線防(fang)護達豁免(mian)要(yao)求。分析時(shi)不接觸不破壞樣品，無(wu)污染，無(wu)需化學試劑，也不需要(yao)燃燒(shao)。

使用方(fang)便(bian)––觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入(ru)儀器后只需(xu)按[啟動]鍵(jian)即可，真正(zheng)實現(xian)一鍵(jian)操作。

高可(ke)靠性––一體化設計(ji)，集成化程(cheng)度高，環境適應能力強(qiang)，抗(kang)干擾能力強(qiang)，可靠性(xing)高。

數(shu)據傳存––可(ke)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)海量數(shu)據(ju)，支持掉電后保(bao)持數(shu)據(ju)，并可(ke)隨時查看。并可(ke)將存(cun)(cun)儲(chu)(chu)數(shu)據(ju)傳輸到PC機。

高性價比––無(wu)需氣(qi)體、真空、稀釋，運行(xing)維護成本極低。價格為(wei)國(guo)外同(tong)類產品的一半，適應我(wo)國(guo)國(guo)情。

校(xiao)準

X熒光分析方法(fa)是(shi)一種參考方法(fa)，校準(zhun)是(shi)為得(de)到(dao)定(ding)量的(de)結果所必(bi)須的(de)。XRF光譜(pu)(pu)儀通過(guo)比較(jiao)已知(zhi)標樣與未(wei)知(zhi)樣的光譜(pu)(pu)強度來(lai)得到定(ding)量分(fen)析的結果。其某元素的濃度計(ji)算式（即校(xiao)準曲(qu)線）為：

C＝D＋EI_C＋FI_C ^{2   }                                                              （1）

式(shi)中，I_C =f(I₀)，I₀為原始(shi)強度(du)，I_C為處理后強度，D、E、F是(shi)由校準確定(ding)的系(xi)數(shu)。校準的方法是(shi)：用光譜儀測量(liang)一系(xi)列校準標(biao)準樣(yang)品(pin)或(huo)有證標(biao)準樣(yang)品(pin)的每種元素強度，利(li)用回歸分(fen)析，例如最小(xiao)二乘法，確定(ding)（1）式的(de)系數(shu)。

用(yong)已知(zhi)濃度的11個水泥生料標準樣品對光譜儀進(jin)行校準，得到的(de)數(shu)據如(ru)表1。

表1.水泥生料(liao)標準(zhun)樣品校(xiao)準(zhun)結果數據

這(zhe)些校準曲線的(de)相關系(xi)數γ均大于0.99，表示(shi)DM1230 X熒光鋁(lv)硅分析儀的線性(xing)誤差極小。

重復(fu)性(xing)

對同(tong)一水泥(ni)生料樣品(pin)，進(jin)行(xing)11次(ci)測量，得到各元素(su)的(de)重(zhong)復性數據如表2。

表2.生料(liao)標準樣品重復性測量數據分析(xi)（%）

按國(guo)家標準GB/T 176—2017《水泥化(hua)學分析方(fang)法》的重復性要(yao)求，光譜儀的重復性必須滿足(zu)：其(qi)示值標準(zhun)偏差的3倍不(bu)大于GB/T176的重復(fu)性限。從(cong)表2可以看(kan)出DM1230 X熒光鋁硅分析儀可以實現優(you)異的重復(fu)性。

主要技(ji)術指標(biao)