聯系我們有關XRF的常見術語和問(wen)答(da)（3）
和峰
和峰（Sum Peak）是由于2個光(guang)子(zi)正好同(tong)時撞擊探測器(qi)而(er)產生的偽峰(feng)。這2個光子(zi)被探測(ce)器(qi)捕獲，被識別為1個(ge)光子，如果2個光(guang)子能(neng)(neng)量相同，則和(he)峰是(shi)正常能(neng)(neng)量的(de)二倍。在(zai)具有高元(yuan)素濃度的(de)XRF光譜中更突出，可以(yi)通過降(jiang)低計數率來降(jiang)低和峰(feng)。
逃逸峰
由(you)于(yu)探測器中物質（如Si）吸收光子的一些能量而引起(qi)的偽峰（E觀察(cha)到＝E入射 - E Si，E Si＝1.74 keV）。當進入(ru)探測器的X 射線光子能量高于(yu)探測器物質的(de)吸收限能量時，因該物質對本身被激發的(de)特征X 射線呈現出高度的(de)透明(ming)，而導致這部分能量的(de)逃逸(yi)，結果(guo)在能譜上除(chu)了入射X 射(she)線的主峰外，還會在較(jiao)低能量(liang)位置出現一個逃逸峰（Escape peak），在具有高濃度(du)元(yuan)素(su)和(he)低Z元素的XRF光(guang)譜中更突出。
逃逸峰(feng)高度約為主峰(feng)的1/ 1000 到2/100，通(tong)常(chang)僅在強度取對數坐標的譜圖中明顯可見,而且(qie)原子序數(shu)大(da)于30 的元素已基本不存在逃
光譜干擾
光譜干擾是在光譜中與待分析的元(yuan)素的譜峰（感興趣區(qu)域）重疊的峰。如： K線和L線重疊：S的K線和(he)Mo的L線，Cl的K和Rh的(de)L線，As的(de)K和(he)Pb的L線等；相鄰元素重疊(die)：Al和Si，S和Cl，K和Ca等。探測器的分辨(bian)率決定重疊程(cheng)度。
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能量分辨率
能量分辨率（Energy resolution）是指，針對(dui)兩(liang)種不(bu)同(tong)能(neng)量(liang)的入(ru)射粒子，探測器所(suo)能(neng)夠測定最小的能(neng)量(liang)間隔(ge)。能(neng)量(liang)分(fen)辨(bian)率定義(yi)為FWHM(全(quan)能峰高度一半處的峰寬度)與峰位能(neng)量(liang)的(de)比值，或(huo)直接用FWHM表(biao)(biao)示，但(dan)需指(zhi)明峰為能(neng)量。它表(biao)(biao)征了探測器對(dui)不同能(neng)量射線的辨能(neng)力，因(yin)此(ci)是譜(pu)儀探測器最重要的性能(neng)指(zhi)標。
能(neng)量(liang)分辨率與產(chan)生一個(ge)電子(zi)一空穴對所需的(de)(de)能(neng)量(liang)、入(ru)射粒(li)子(zi)的(de)(de)能(neng)量(liang)等(deng)有關，還受探(tan)測(ce)(ce)器材(cai)料(liao)的(de)(de)反(fan)向漏電流、結電容、溫(wen)度、電子(zi)學噪聲和反(fan)向偏(pian)壓等(deng)因(yin)素(su)的(de)(de)影響(xiang)。實際(ji)測(ce)(ce)得的(de)(de)能(neng)量(liang)分辨率與探(tan)測(ce)(ce)器輸出信(xin)(xin)號的(de)(de)產(chan)生、傳遞、轉換、放(fang)大與收集等(deng)過(guo)程有關。若有用信(xin)(xin)號越強(qiang)，干擾因(yin)素(su)越弱，則能(neng)量(liang)分辨率越好。
基體效應
基體（Matrix）是樣品中不包(bao)括(kuo)分析元素(su)本身的其他(ta)組成。
基體(ti)效應（Matrix Effects）就(jiu)是樣品的基本化(hua)學組成和物理化(hua)學狀(zhuang)態差異對分析線強度(du)的綜合(he)影(ying)響。
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